电子产品的测试方法及电子产品测试装置1.本发明涉及电子产品检验技术领域，特别涉及一种电子产品的测试方法。本发明还涉及一种电子产品测试装置。

　　2.电子产品是以电能为工作基础的相关产品，主要包括：手表、智能手机、电话、电视机、影碟机(vcd、svcd、dvd)、录像机、摄录机、收音机、收录机、组合音箱、激光唱机(cd)、电脑、游戏机、移动通信产品等。

　　3.因早期产品主要以电子管为基础原件，故名电子产品。随着科技的快速发展，人们的生活水平也在快速的提高，越来越多的电子产品进入千家万户。这些设备一般都含有一块甚至多块或大或小的电路板，这些电路板上焊接了各种各样的接口，这些电子产品在出厂时都需要进行一系列的检测。

　　4.一般来说，传统的对于电子产品的检测主要是依靠人工来完成的，检测人员使用探针抵接在待测电子产品的测点上，进而利用其他装置，来检验电子产品中的各个部件。但是，此种检测方式费工费力，而且检测的准确度也因为人工操作的原因而有所降低。

　　5.为此，一些厂家相应的制作出一些电子产品的检测设备，并制定了相关的检测方法。但这些检验设备存在着兼容性低，检测效率不够高的问题；而且，制定的各种检验方法也存在着步骤不够合理，与实际应用不匹配的问题。

　　6.有鉴于此，本发明旨在提出一种电子产品的测试方法，以便于对不同规格的电子产品进行检测测试。

　　8.一种电子产品的测试方法，用于对待测电子产品进行电路模拟测试，首先，固定所述待测电子产品，并为所述待测电子产品提供电源；利用多个探针分别抵接所述待测电子产品上的各测点，并将各探针通断可控地与控制单元中相应的信号接口连接；通过与所述控制单元连接的监控设备定义各信号接口的类型、控制各信号接口与相应的探针的通断、并获取待测电子产品的测试数据。

　　9.进一步的，所述信号接口包括模拟量采集接口、数字接口、单线接口、通讯接口中的一种或多种。

　　10.进一步的，在所述控制单元上连接检测装置，利用所述检测装置获取所述待测电子产品的定位情况和/或条码信息。

　　11.进一步的，在所述控制单元上连接驱动单元，利用所述驱动单元驱动所述探针移动，以与所述待测电子产品上的测点抵接。

　　测电子产品的整体或者局部进行检验。同时，通过定义各信号接口的类型、获取待测电子产品的测试数据，可以根据不同待测电子产品的情况，灵活调配信号接口类型和探针的分布情况，利于提升测试方法及其装置的适用范围。

　　14.此外，通过将信号接口设置为模拟量采集接口、数字接口、单线接口和通讯接口，使得该电子产品的测试方法能够对电子产品上的多种功能进行模拟测试，进而能够提升检测待测电子产品的通用性。

　　15.另外，通过检测装置对待测电子产品的定位情况的检测，使得在使用探针来检测时，能够有效减轻因待测电子产品的定位不准而出现的检测结果不具有参考价值的问题。而且，通过检测装置对待测电子产品的产品信息进行检测，可以防止探针抵触在错误的待测电子产品上，降低探针的损坏概率。

　　16.本发明的另一目的在于提出一种电子产品测试装置，包括用于固定待测电子产品的测试平台，以及相互连接的控制单元和监控设备；所述测试平台上设有多组可抵接所述待测电子产品上各组测点的探针，所述控制单元上配置有多个信号接口；

　　17.所述电子产品测试装置还包括信号分配单元，各组所述探针通过所述信号分配单元与相应的所述信号接口连接，且所述信号分配单元能够控制所述探针和所述信号接口之间的通断状态；

　　18.所述控制单元能够接受所述监控设备的控制指令以配置各所述信号接口的类型，且可接受各所述信号接口的信号输入，并将接受的信号数据传输至所述监控设备。

　　20.进一步的，所述测试平台上配置有用于为所述待测电子产品提供电源的供电单元，所述供电单元包括设于电压输入端和电压输出端之间的电源调节电路；由所述电压输入端向着所述电压输出端，所述电源调节电路上串联设置有可调节型稳压器和电感线.进一步的，所述信号接口包括模拟量采集接口，所述信号分配单元包括模拟量分配电路；所述模拟量分配电路中设有连接所述模拟量采集接口的数模转换芯片，以及设于所述数模转换芯片的输入端和所述探针之间的分压元件、运算放大器和开关元件。

　　22.进一步的，所述测试平台包括支架，设于所述支架上的底部托架和驱动单元，以及用于设置所述探针的探针板；所述待测电子产品定位设置于所述底部托架上，所述探针板可在所述驱动单元驱使下上下移动，以使所述探针的顶端抵接在对应的所述测点上。

　　23.进一步的，所述探针的顶部与所述探针的主体之间设置有弹性件，以使所述顶部可弹性伸缩于所述主体上。

　　24.相对于现有技术，本发明的电子产品测试装置，通过设置的信号分配单元，能够分别对待测电子产品上的不同功能和板块单独或者同时进行检测，使得对待测电子产品的检测更为灵活便捷。同时，通过设置的控制单元，使得监控设备和信号接口之间的指令传输和信号输入更为通畅，并能够提升该电子产品测试装置的自动化程度。

　　25.不仅如此，通过在测试平台上设置的信号分配单元，使得对探针和信号接口之间通断的控制更为方便，进而便于该电子产品测试装置分别对待测电子产品上的不同功能单独或者同时进行检测，从而有利于提升对待测电子产品的检测效率。同时，通过在电源调节电路上设置的可调节型稳压器和电感线圈，使得在对待测电子产品进行检测时，能够改善因电压不稳定所导致的电源调节电路损坏的问题。

　　26.而且，通过在信号分配单元中设置的模拟量分配电路，使得信号分配单元对探针和信号接口之间通断状态的控制更为自动化，进而能够提升对电子产品中不同功能和板块的检测效率。另外，通过对电子产品测试装置整体结构的进一步优化，使得待测电子产品能够放置在底部托架上。同时，通过设置的驱动单元，使得探针板能够上下移动，进而便于将探针板的顶端抵接在对应的测点上。

　　27.最后，在探针的顶端抵接在对应的测点上时，通过在探针的顶部和探针的主体之间设置的弹性件，能够改善因刚性接触所导致的探针损伤的问题，从而有利于提升该本发明的使用寿命。

　　28.构成本发明的一部分的附图，是用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明是用于解释本发明，其中涉及到的前后、上下等方位词语仅用于表示相对的位置关系，均不构成对本发明的不当限定。在附图中：

　　36.1、控制单元；101、模拟量采集接口；102、数字接口；103、单线、支架；200、驱动单元；201、伺服电机；202、探针板；203、探针；21、底部托架；22、控制箱；3、供电单元；4、信号分配单元；5、待测电子产品。

　　38.在本发明的描述中，需要说明的是，若出现“上”、“下”、“内”、“背”等指示方位或位置关系的术语，其为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

　　39.此外，在本发明的描述中，除非另有明确的限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“连接件”应做广义理解。例如，连接可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，亦或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以结合具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。另外，在本发明的实施例中所提到的，测试方法是指电子产品的测试方法。测试装置，是指电子产品测试装置。

　　43.该电子产品的测试方法用于对待测电子产品5进行电路模拟测试。整体思路上，首先，固定待测电子产品5，并为待测电子产品5提供电源；利用多个探针203分别抵接待测电子产品5上的各测点，并将各探针203通断可控地与控制单元1中相应的信号接口连接；通过与控制单元1连接的监控设备定义各信号接口的类型、控制各信号接口与相应的探针203的通断、并获取待测电子产品5的测试数据。

　　44.除上述可行的实施方式之外，在本实施例中，还有另一种更为优选的实施方式，具体来讲，为了使该测试方法能够对电子产品上的多种功能进行模拟测试，信号接口包括模拟量采集接口101、数字接口102、单线中的一种或多种。这样一来，通过控制各探针203的通断，即可分别使用单个或者多个不同的接口，进而多待测电子产品5上的单个或者多个功能以及板块进行检测。当然了，各种接口同时使用，来对待测电子产品进行检测的方式也是可以的。

　　45.在具体实施时，为了防止待测电子产品5的放置位置错误和搞错待测电子产品5的型号，在控制单元1上连接有检测装置11，检测装置11会在探针203 抵接在待测电子产品5的测点上之前，对电子产品的位置信息和条码信息进行确认。若位置信息有误或条码所显示的产品信息与应测的待测电子产品5不相符，则可通过诸如手动调整的方式来调整待测电子产品5。直至待测电子产品5 能够进行检测。

　　46.不仅如此，为了便于探针203的移动，在本实施例中，由设在控制单元1 上的驱动单元200来驱动探针203移动，以使探针203与待测电子产品5的测点相抵接。

　　49.整体而言，该电子产品测试装置主要包括用于固定待测电子产品5的测试平台，以及相互连接的控制单元1和监控设备。其中，测试平台上设有多组可抵接待测电子产品5上各组测点的探针203，控制单元1上配置有多个信号接口。

　　50.同时，为了便于控制探针203和信号接口之间的通断，电子产品测试装置还包括信号分配单元4，各组探针203通过信号分配单元4与相应的信号接口连接，且信号分配单元4能够控制探针203和信号接口之间的通断状态。

　　51.如此设置，使得对探针203和信号接口之间通断的控制更为方便，进而便于该电子产品测试装置分别对待测电子产品5上的不同功能以及板块单独或者同时进行检测，从而有利于提升对待测电子产品5的检测效率。

　　52.与此同时，为了进一步的提升本测试装置的对待测电子产品5的检测效率，控制单元1能够接受监控设备的控制指令以配置各信号接口的类型，且可接受各信号接口的信号输入，并将接受的信号数据传输至监控设备。这样一来，通过设置的控制单元1，使得监控设备和信号接口之间的指令传输和信号输入更为通畅，并能够提升该电子产品测试装置的自动化程度。

　　53.在本实施例中，对于待测电子产品5上的通信端口的不同配置情况博鱼官网登录入口，控制单元11中信号接口的通讯接口104，可根据附图4所示的转换电路单元来适应待测电子产品5的通信接口要求。

　　54.另外，需要说明的是，控制单元11可基于cortex-m4芯片或stm32f4系列芯片设置；

　　该两种芯片支持多种接口类型，可满足多种检测电路的配置要求，并可根据检测的需要设置所需的控制步骤。在如图4所示的电路中：

　　55.u5：双电压usart串口连接芯片，控制单元1与待测电子产品5的电压可能不一致，采用隔离双电压，两边电平符合自己系统的电压。在初始状态，可对待测电子产品5的处理器，程序烧写、通讯指令验证、下位机控制；

　　56.u6、u7：双电压双向数据缓冲器，控制单元1与待测电子产品5的电压可能不一致，采用隔离双电压，两边电平符合自己系统的电压，测量各种触点的接口，分析芯片工作正常情况，配置内容正确情况，与调试/检验工艺标准符合情况。

　　57.除上述结构之外，为了便于检测待测电子产品5，在本实施例中的测试平台上，配置有用于为待测电子产品5提供电源的供电单元3，供电单元3包括设于电压输入端和电压输出端之间的电源调节电路；由电压输入端向着电压输出端，电源调节电路上串联设置有可调节型稳压器和电感线.该电源调节电路见附图5，在具体电路中：

　　63.c3、c4、c1、c2：电容，过滤杂波信号，使电路中的电压保持稳定，c3 和c1过滤低频c2和c4过滤高频，c3和c4对输入电压过滤，c1和c2对输出电压过滤；

　　66.u1：dc-dc可调节型稳压器，通过adj脚的r1、r2、r3电阻值决定最终输出电压；

　　71.上述设置，不仅便于对待测电子产品5的检测，同时，通过在电源调节电路上设置的可调节型稳压器和电感线圈，使得在对待测电子产品5进行检测时，能够改善因测试所导致的电源调节电路损坏的问题，从而进一步地提升了本检测装置11工作的稳定性。

　　72.不仅如此，在本实施例中，基于信号接口设置的模拟量采集接口101，相应的，模拟量分配电路400中设有连接模拟量采集接口101的数模转换芯片，以及设于数模转换芯片的输入端和探针203之间的分压元件、运算放大器和开关元件。

　　73.该模拟量分配电路400如附图6，在具体电路中：s1、s2：为多路模拟信号开关，通过配置可选择其中一路信号采集测量；

　　74.q1、q2：为nv级运算放大器，做成跟随器，提高采集信号的驱动能力，防止采集的信号，因后续电路发生变化；

　　75.u3：模拟电压分压处理，因采集的信号电压值可能超出ad采集的能力范围，采用1/2、1/4、1/8，处理后再传送给ad芯片采集；

　　76.d3：齐纳稳压二极管，击穿电压为ad采集电压承受范围值，可有效保护 ad芯片因输入电压过高引起损伤；

　　77.u2：多路、24位数模转换芯片，可设置参考电压范围，针对采集电压的级别范围调整满幅电压值0.512/1.024/2.048/4.096。在电路调试工艺中，如果需要同时或采用不切换方式测量两路以上的电压值时，采用s3、s4、q3、q4、u4、 d4，组成的另一个路的信号测量，同时进行。

　　78.如图3所示，在本实施例中，作为一种优选的实施方式，测试平台包括支架20，设于支架20上的底部托架21和驱动单元200，以及用于设置探针203 的探针板202；待测电子产品5定位设置在底部托架21上，探针板202可在驱动单元200驱使下上下移动，以使探针203的顶端抵接在对应的测点上。

　　79.在具体实施时，驱动单元200被配置为由外接电源驱动的伺服电机201，伺服电机201通过控制箱22和外接电源连接，控制单元1的外壳通过连接臂和连接臂上的连接套筒可竖直移动地和支架20的支腿相连。如此，伺服电机201 在控制箱22的控制下，能够使控制单元1在竖直方向上进行移动，进而设于控制单元1下方的探针板202和探针203等结构也随之上下移动，以使探针203 的顶端抵接在放置在底部托架21上的待测电子产品5的待测点上。

　　80.需要说明的是，在探针203的顶端抵接在对应的测点上时，通过在探针203 的顶部和探针203的主体之间设置的弹性件，使得探针203顶部可弹性伸缩于其主体上，进而能够改善因刚性接触所导致的探针203损伤的问题，从而有利于提升该本发明的使用寿命。

　　81.再者，为了进一步增强本测试装置对不同待测电子产品5的通用性，其可通过换装具有不同安装点位的探针板202来使探针203能够适应不同的待测电子产品5，当然，也可选用为能够调整探针203位置的探针板202。而在本实施例中，选用了两块具有不同安装点位的探针板202来安装探针203，两块探针 203版上下布置，其中，上方的探针板202的面积要大于下方的探针板202，以腾出空间来安装上述的测试方法中所提及的检测装置11，该检测装置11可选用为诸如cmos摄像头等，以对待测电子产品5的进行测试前的检测。

　　82.至于监控设备，其可选用现有的控制屏12、计算机等，通过必要的通信设置，基于现有的监控软件来读取控制单元1采集的数据、并完成对控制单元1 的设置即可，于此不做累述。

　　83.此外，在本实施例中，还设有外壳，该外壳选用透明的pc材质，以能够观察内部的运转，亦可保护操作者和探针203。

　　84.综上所述，本实施例中的电子产品的测试方法，通过控制信号接口与相应探针203的通断，能够对待测电子产品的整体或者局部进行检验。同时，通过定义各信号接口的类型、并获取待测电子产品5的监测数据，使得对待测电子产品5的测试和调试的速度和测试的准确度均能够得到有效提升，进而有利于提高对待测电子产品5的检测效率。并且，还可以根据不同待测电子产品5的情况，灵活调配信号接口类型和探针203的分布情况，利于提升测试方法及其装置的适用范围。

　　85.以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

　　1.数字信号处理 2.传感器技术及应用 3.机电一体化产品开发 4.机械工程测试技术 5.逆向工程技术研究